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“上海EPK GalvanoTest 2000库伦测厚仪”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 认证： | EPK ElektroPhysik |
| 品牌： | EPK ElektroPhysik | 加工定制： | 否 |
| 测量范围： | 2mm | 测定对象： | 涂镀层 |
| 测量精度： | 0.1um | 分辨率： | 0.1um |
| 型号： | GalvanoTest 2000 | 规格： | EPK ElektroPhysik |
| 商标： | EPK ElektroPhysik | 包装： | 德国原装 |
“上海EPK GalvanoTest 2000库伦测厚仪”详细介绍
上海EPK GalvanoTest 2000库伦测厚仪
库仑测厚仪(统计型)
GalvanoTest 2000 (含支架,RS-232口,三种电解液,有统计功能)
GalvanoTest 3000 (含循环泵,支架,RS-232口,5种电解液,18种金属存储)
德国EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层厚度。
可以测量70种以上镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
用户可另设置1种金属的测量参数
德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GalvanoTest 2000，应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需要专业知识。
GALVANOTEST3000库仑镀层测厚仪
库仑法又是能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。
上海EPK GalvanoTest 2000库伦测厚仪
GalvanoTest 2000库伦测厚仪存储数值：
可存储不同金属测量参数的数目,可存储2000个读数和统计值 ,仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。
统计计算
显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、、***小值、读数个数,立即或稍后显示统计值,显示、打印年、月、日、时、分
GalvanoTest 2000库伦测厚仪用于外设的计算机接口：
MINIPRINT 微型打印机接口,RS-232，PC计算机接口,连接x-t计录仪模拟电压输出接口,测量范围：测量范围：0.05-75μm
库仑测厚仪(统计型)
GalvanoTest 2000 (含支架,RS-232口,三种电解液,有统计功能)
GalvanoTest 3000 (含循环泵,支架,RS-232口,5种电解液,18种金属存储)
德国EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层厚度。
可以测量70种以上镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
用户可另设置1种金属的测量参数
德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GalvanoTest 2000，应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需要专业知识。
GALVANOTEST3000库仑镀层测厚仪
库仑法又是能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。
上海EPK GalvanoTest 2000库伦测厚仪
GalvanoTest 2000库伦测厚仪存储数值：
可存储不同金属测量参数的数目,可存储2000个读数和统计值 ,仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。
统计计算
显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、、***小值、读数个数,立即或稍后显示统计值,显示、打印年、月、日、时、分
GalvanoTest 2000库伦测厚仪用于外设的计算机接口：
MINIPRINT 微型打印机接口,RS-232，PC计算机接口,连接x-t计录仪模拟电压输出接口,测量范围：测量范围：0.05-75μm
